目的:研究左、右侧大脑半球岛叶及其深部结构的非对称性。方法:在微型计算机上使用e-film工作站,选取30名正常人头颅横断面MRI图像的岛叶层面,将图像导入Adobe Photoshop 10.0软件中进行测量,得出岛叶区域左、右两侧95%可信区间典型层面距正中矢状面距离,经统计学分析得出各层两侧距离差异。结果:岛叶中央沟、前环岛沟、下环岛沟各层面距正中矢状面距离均数以左侧大于右侧为主,占88%;其中岛叶中央沟区段(Z=-3~15 mm层面)、前环岛沟近脑底部层面(Z=0~-9 mm层面)、下环岛沟中下部区段(Z=-9~9mm层面)距离左侧大于右侧,距离均数差异均有统计学意义(P<0.05~P<0.01);其余各典型层面两侧距离差异均无统计学意义(P>0.05)。结论:岛叶及其深部结构区总体形态上,在岛叶中央沟区、前环岛沟近脑底部层面、下环岛沟中下部层面区域呈现出明显左侧大于右侧的趋势,此区域各结构的功能是否存在非对称性,及结构非对称性是否与大脑半球其他局部区域的结构与功能非对称性相关,尚待进一步研究。

目的:探讨大脑颞上沟在MRI横断面及矢状面图像上的形态学规律。方法:在eFilm2.1工作站中,将获取的29名正常成人志愿者头颅连续MRI扫描数据,采用连续追踪法和3D-CuRsoR技术,对连续MRI横断面及矢状面图像上的颞上沟进行识别、观测,统计其形态学特征。结果:颞上沟可出现在Z=-36～48 mm区段的MRI横断层图像上(95%分布于Z=-30～42 mm层面上),并随着层面的上移而沟后移;矢状面上颞上沟分为前部的水平段及后部的升段;在Z=-6～6 mm层面上颞上沟出现明显向后上走行的与颞上沟前部呈较大钝角的拐点,在Z=-21～12 mm的横断面上颞上沟可出现多沟表现(95%分布于Z=-18～9 mm层面上)。结论:本文结果可帮助颞上沟的快速识别和颞上沟周围重要结构的准确定位。

目的:构建岛叶重要脑沟基于连合间径定位体系中的立体定位数据集及其平面投影回归方程。方法:30名健康成人颅脑以连合间径(AC-PC)为扫描基线,获得的横断层MRI数据经格式转化后导入Photoshop软件,经过严格的图像配准,建立以AC-PC中点为原点的三维坐标系,获得大脑横断面图像上结构的三维立体坐标值,其中X值和Y值可直接在软件中读取,Z值为图像距离AC-PC平面的层数乘以图像层厚的积,分别测量岛叶中央沟最内侧点、前环岛沟和下环岛沟的坐标值,所有取样点坐标值组成岛叶脑沟在三维坐标系中的立体定位数据集。运用SPSS13.0软件,对所获得的数据进行统计,求解出在水平面、冠状面和矢状面上投影的回归方程。结果:成功构建岛叶中央沟、前、下环岛沟在三维坐标系中的立体定位数据集及各岛沟在各平面上的投影回归方程。结论:岛叶中央沟及前、下环岛沟进行立体定位数据集的构建,为立体定向和功能神经外科、三维放射治疗的应用提供解剖学基础;同时对于揭示位于大脑基底部岛叶及深部区域的发生、发育等形态学规律有重要的意义。